• 姓名: 杨红
  • 性别: 女
  • 职称: 研究员
  • 职务: 
  • 学历: 博士
  • 电话: 
  • 传真: 
  • 电子邮件: yanghong@ime.ac.cn
  • 通讯地址: 北京市朝阳区北土城西路3号
  • 邮政编码: 
  • 所属部门: 先导中心集成电路创新技术部
    简  历:
  • 教育背景:
    1998.09-2002.07 北京大学 计算机科学与技术系 微电子与固体电子学专业 本科
    2002.09-2005.07 北京大学 信息科学技术学院 微电子学系 硕士
    2015.09-2019.07 中国科学院大学 微电子与固体电子学专业 博士
    工作简历:
    2005.09-2011.07韩国三星电子 半导体事业部 高级工程师/工程师 
    2011.08-2020.06 中国科学院微电子研究所 集成电路先导工艺研发中心 副研究员
    2020.06-至今中国科学院微电子研究所集成电路先导工艺研发中心  
    社会任职:
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    研究方向:
  • 集成电路器件可靠性物理与工艺协同优化
    承担科研项目情况:
  • 1.校企产研项目,2023.04-2024.10,150万,项目负责人 
    2.地方企业项目,2023.01-2025.12,1438万,项目负责人 
    3.高技术项目,2020.08-2023.08,220万,项目负责人 
    4.国家自然科学基金,2014.01-2016.12,30万,项目负责人 
    代表论著:
    获奖及荣誉:
    专利申请:
  • 已授权专利:
    1.杨红等,美国专利,授权号:US9831089 B2 
    2.杨红等,美国专利,授权号:US8921171.B2 
    3.杨红等,中国专利,授权号:ZL201510661889.2
    4.杨红等,中国专利,授权号:ZL201310331607.3
    5.杨红等,中国专利,授权号:ZL201310160772.7
    6.杨红等,中国专利,授权号:ZL201210246582.2
    7.杨红等,中国专利,授权号:ZL201210246572.9