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作者信息:硅器件中心 孙澎
图片描述:本作品为拍晶圆横截面所形成的图片,VDMOS器件性能好坏,很大程度上取决于它的微观结构,通过扫描电子显微镜看到其横断面微观结构,包括垂直几何结构、双扩散工艺、多晶硅栅结构、单胞由结构等。
成像设备:台式电子扫描显微镜
图像处理软件:JCM-6000
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