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2017年6月3日,集成电路检测及测试技术与未来发展国际高峰论坛在北京举行。此次高峰论坛由集成电路测试仪器与装备产业技术创新联盟主办、集成电路产业技术创新战略联盟、中国半导体行业协会和国家集成电路产业投资基金支持,中国科学院微电子研究所承办。科技部原副部长曹健林、国家外国专家局原局长马俊如、中国科学院微电子研究所所长叶甜春、国家02专项实施管理管理办公室副主任邱钢、科技部高新司技术发展及产业化司处长曹学军、国家集成电路产业投资基金...
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《芯天地》2017年第3期
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