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以低缺陷密度的AlN /蓝宝石模板有效释放AlN厚膜中的拉伸应力

稿件来源:今日半导体 责任编辑:ICAC 发布时间:2020-08-04

  中国研究人员展示了如何通过高温金属有机化学气相沉积(MOCVD)有效释放氮化铝(AlN)厚膜中的拉应力,从而允许低缺陷密度AlN /蓝宝石模板的生长。

  研究人员提出生长厚的AlN膜以减少AlN /蓝宝石模板中的TDD,这可使位错爬长距离以互相破坏。该技术的关键是通过引入高密度的纳米空隙来有效释放AlN厚膜中的拉应力。

  AlN膜的生长始于在NAURA iTops A230 AlN溅射系统的2英寸蓝宝石衬底上溅射的20nm厚AlN缓冲液。随后,通过使用Aixtron紧密耦合喷嘴(CCS)高温(HT)金属有机化学气相沉积(MOCVD)系统在溅射的AlN /蓝宝石上产生厚的AlN膜。后续结构由300nm厚的HT AlN-1层(1230°C),350nm厚的中间温度(MT)AlN层(930°C)和4950nm厚的HT AlN-2层(1235°C)组成。 AlN膜的总厚度为约5.6μm。此外,还生长了没有MT中间层的5.6μm厚的AlN膜用于比较。

  实验发现具有MT夹层的AlN厚膜的曲率增加率比没有MT的AlN厚膜的曲率增加率小得多。中间层显示出张应力要弱得多,进一步证明了,MT AlN中间层的引入可以有效缓解拉应力。横截面扫描透射电子显微镜(STEM)图像分析,MT中间层的引入诱导了高密度(1.7x1010cm-2)纳米孔的产生,这些纳米空隙通过减小接触面积而有效地破坏了MT中间层和随后的外延层之间的相干性,从而有助于显着减小拉伸应力。高分辨率X射线衍射(HR-XRD)测量表明,带有MT夹层的AlN膜的结晶质量也得到了显着改善。

  研究人员认为,这项技术为实现高性能DUV LED和其他基于AlN的光电电子设备铺平了道路。

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