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论文题目: | 200 nm gate-length GaAs-based MHEMT devices by electron beam lithography |
论文题目英文: | |
作者: | XU JingBo, ZHANG HaiYing, WANG WenXin, LIU Liang, LI Ming, FU XiaoJun, NIU JieBin ,YE TianChun |
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刊物名称: | Chinese Science Bulletin |
年: | 2008 |
卷: | 53 |
期: | 22 |
页: | 3585-3589 |
联系作者: | XU JingBo |
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科研产出