论文编号:
第一作者所在部门:
论文题目: 200 nm gate-length GaAs-based MHEMT devices by electron beam lithography
论文题目英文:
作者: XU JingBo, ZHANG HaiYing, WANG WenXin, LIU Liang, LI Ming, FU XiaoJun, NIU JieBin ,YE TianChun
论文出处:
刊物名称: Chinese Science Bulletin
: 2008
: 53
: 22
: 3585-3589
联系作者: XU JingBo
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