论文编号: TN407
第一作者所在部门: 专用集成电路与系统研究室(二室)
论文题目: 基于JTAG的DSP调试系统的设计
论文题目英文:
作者: 徐宇杰;梁利平
论文出处:
刊物名称: 电子测量技术
: 2009
:
: 5
: 4,108-110,115
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摘要: JTAG标准,即IEEE1149.1标准,定义了一种国际通用的边界扫描结构和测试端口访问规范。如今众多芯片都兼容该标准。本文提出了一种基于JTAG的DSP调试系统的设计方案,支持断点,可观测内部寄存器、存储器,也可对存储器内容进行修改,对提高DSP开发效率有一定意义。
英文摘要:
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