论文编号: | TN407 |
第一作者所在部门: | 专用集成电路与系统研究室(二室) |
论文题目: | 基于JTAG的DSP调试系统的设计 |
论文题目英文: | |
作者: | 徐宇杰;梁利平 |
论文出处: | |
刊物名称: | 电子测量技术 |
年: | 2009 |
卷: | |
期: | 5 |
页: | 4,108-110,115 |
联系作者: | |
收录类别: | |
影响因子: | |
摘要: | JTAG标准,即IEEE1149.1标准,定义了一种国际通用的边界扫描结构和测试端口访问规范。如今众多芯片都兼容该标准。本文提出了一种基于JTAG的DSP调试系统的设计方案,支持断点,可观测内部寄存器、存储器,也可对存储器内容进行修改,对提高DSP开发效率有一定意义。 |
英文摘要: | |
外单位作者单位: | |
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