利用洄滞效应探测有机场效应晶体管的界面状态--中国科学院微电子研究所

科研产出

当前位置首页科研工作科研产出论文

论文编号:	172511O120100214
第一作者所在部门:	三室一组
论文题目:	利用洄滞效应探测有机场效应晶体管的界面状态
论文题目英文:
作者:	刘明
论文出处:	SCI收录
刊物名称:	The 10th ICSICT
年:	2010
卷:
期:
页:
联系作者:
收录类别:
影响因子:	0
摘要:
英文摘要:
外单位作者单位:
备注:	The 10th ICSICT

中国科学院微电子研究所版权所有邮编：100029
单位地址：北京市朝阳区北土城西路3号，电子邮件：webadmin@ime.ac.cn
京公网安备110402500036号，京ICP备05002781号-1