论文编号: 172511O120110372
论文题目: 金属栅/高k栅介质/SiO2/Si栅结构的平带电压偏移和能带自对准的深入理解
刊物名称: 2011 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM)
: 2011
联系作者: 王文武