当前位置 首页 科研工作 科研产出 论文
论文编号: 172511O120110146
第一作者所在部门:
论文题目: 辐射加固SOI工艺FPGA的设计与验证
论文题目英文:
作者:
论文出处:
刊物名称: 11届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
年: 2011
卷:
期:
页:
联系作者: 于芳
收录类别:
影响因子:
摘要:
英文摘要:
外单位作者单位:
备注: 11届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术交流会
中国科学院微电子研究所版权所有 邮编：100029
单位地址：北京市朝阳区北土城西路3号，电子邮件：webadmin@ime.ac.cn
京公网安备110402500036号，京ICP备05002781号-1