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论文编号: 172511O120110105
第一作者所在部门:
论文题目: MOS器件栅介质层陷阱的表征方法
论文题目英文:
作者:
论文出处:
刊物名称: 微电子学
年: 2011
卷: 41
期: 5
页: 714
联系作者: 刘明
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