研究一维厚度的缩小对Cu/HfOx/Pt阻变器件性能的影响--中国科学院微电子研究所

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论文编号:	172511O120120269
第一作者所在部门:	三室
论文题目:	研究一维厚度的缩小对Cu/HfOx/Pt阻变器件性能的影响
论文题目英文:
作者:	刘明
论文出处:
刊物名称:	IEEE ELECTR DEVICE L
年:	2012
卷:	33
期:	11
页:	1556
联系作者:	刘明
收录类别:
影响因子:	0.2060
摘要:
英文摘要:
外单位作者单位:
备注:	SCI收录