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论文编号: 172511O120120198
第一作者所在部门: 四室一组
论文题目: GaN MMIC中SiN介质MIM电容的可靠性
论文题目英文:
作者: 刘新宇
论文出处:
刊物名称: 物理学报
年: 2012
卷:
期: 17
页: 177302-1
联系作者: 刘新宇
收录类别:
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备注: SCI收录
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