论文编号: 172511O120120289
第一作者所在部门: 三室
论文题目: 利用电容和电流测量方法对硅纳米晶存储器中陷阱产生的分析
论文题目英文:
作者: 刘明
论文出处:
刊物名称: Science China: Technological Sciences
: 2012
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: 55
: 588
联系作者: 刘明
收录类别:
影响因子: 0
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