论文编号: 172511O120130120
第一作者所在部门:
论文题目: 用于提取一个通过硅通孔对中的电参数的新的去嵌入结构
论文题目英文:
作者: 周静
论文出处:
刊物名称: Journal of Semiconductors
: 2013-04-18
: 34
: 4
: 045004-1
联系作者: 周静
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