论文编号: 172511O120130062
第一作者所在部门:
论文题目: 一种基于斩波技术的热电堆读出电路设计
论文题目英文:
作者: 陈铖颖
论文出处:
刊物名称: 固体电子学研究与进展
: 2013-08-15
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: 4
: 371
联系作者: 陈铖颖
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摘要: :设计了一款基于斩波技术的热电堆读出电路。读出电路包括前端放大器和2阶1bit量化Sigma-Delta调制器,其中前端放大器采用闭环结构,保证了不同温度下的增益稳定性;此外,在前端放大器和2阶1bit Sigma-Delta调制器中同时引入斩波技术,降低低频噪声和失调电压的影响,实现了较高的检测精度。读出电路采用SMIC 0.18μm 1P6MCMOS工艺实现,测试表明,在电源电压3.3V、1Hz输入信号和3kHz时钟频率下,信噪失真比(SNDR)55.4dB,有效位数(ENOB)达到8.92bit,在-20~85°C温度范围内,可检测约0.2°C的温度变化。
英文摘要:
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