论文编号: 1725110120140229
第一作者所在部门: 十室一组
论文题目: Combining a multi deposition multi annealing technique with a scavenging (Ti) to improve the high-k/metal gate stack performance for a gate-last process
论文题目英文:
作者: 张淑祥
论文出处:
刊物名称: Journal of Semiconductors
: 2014
: 35
: 10
: 106001
联系作者: 张淑祥
收录类别:
影响因子: 0.371
摘要:
英文摘要:
外单位作者单位:
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