论文编号: 1725110120150326
第一作者所在部门: 研究生5,微电子重点实验室
论文题目: INVESTIGATION OF THE FORMING PROGRAM FAILTURE IN ITIR STRUCTURE
论文题目英文:
作者: 许晓欣
论文出处:
刊物名称: Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT), 2014 12th IEEE International Conference on
: 2015
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联系作者: 吕杭炳,刘明
收录类别:
影响因子: 0
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