| 论文编号: | 1725110120150320 |
| 第一作者所在部门: | 研究生5,微电子重点实验室 |
| 论文题目: | Origin of Mobility Degeneration at High Gate Bias in Organic Thin Film Transistors Based on Carriers’ Freeze to Surface Charges |
| 论文题目英文: | |
| 作者: | 徐光伟 |
| 论文出处: | |
| 刊物名称: | SISPAD |
| 年: | 1991 |
| 卷: | |
| 期: | 1 |
| 页: | 143-140 |
| 联系作者: | 李泠,刘明 |
| 收录类别: | |
| 影响因子: | 0 |
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| 外单位作者单位: | |
| 备注: | |
科研产出