| 论文编号: | 1725110120150305 |
| 第一作者所在部门: | 微电子重点实验室 |
| 论文题目: | Impact of P/E Cycling on Read Current Fluctuation of NOR Flash Memory Cell: A Microscopic Perspective Based on Low Frequency Noise Analysis |
| 论文题目英文: | |
| 作者: | 杨潇楠 |
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| 刊物名称: | 2015 IEEE International Reliability Physics Symposium |
| 年: | 2015 |
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| 期: | 1 |
| 页: | 5B.7.1-5B.7.6 |
| 联系作者: | 刘明 |
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