| 论文编号: | 1725110120150293 |
| 第一作者所在部门: | 研究生5，微电子重点实验室 |
| 论文题目: | Justification and Monte Carlo simulation of microstructure evolution process of conductive filament in reset transition in Cu/HfO2/Pt RRAM |
| 论文题目英文: | |
| 作者: | 张美芸 |
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| 刊物名称: | Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2015 IEEE 22nd International Symposium on the |
| 年: | 2015 |
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| 期: | 0 |
| 页: | 539-542 |
| 联系作者: | 龙世兵 |
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| 影响因子: | 0 |
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| 外单位作者单位: | |
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