论文编号: 1725110120150265
第一作者所在部门: 先导中心
论文题目: A simulation analysis of performance of both implanted doping and in situ doping ETSOI PMOSFETs
论文题目英文:
作者: 冯帅
论文出处:
刊物名称: Journal of Semiconductors
: 2015
: 36
: 4
: 1-5
联系作者: 闫江
收录类别:
影响因子: 0.584
摘要:
英文摘要:
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