论文编号: 1725110120150231
第一作者所在部门: 先导中心
论文题目: Influence of ultra-thin TiN thickness (1.4 nm and 2.4 nm) on positive bias temperature instability (PBTI) of high-k/metal gate nMOSFETs with gate-last process
作者: 祁路伟
刊物名称: Chinese Physics B
: 2015
: 24
: 2015
: 127305-127305
联系作者: 王文武
影响因子: 1.603