论文编号: | 1725110120150169 |
第一作者所在部门: | EDA中心 |
论文题目: | Two-dimensional parasitic capacitance extraction for integrated circuit with dual discrete geometric methods |
论文题目英文: | |
作者: | 任但 |
论文出处: | |
刊物名称: | Journal of Semiconductors |
年: | 2015 |
卷: | 36 |
期: | 4 |
页: | 045008-1-045008-7 |
联系作者: | |
收录类别: | |
影响因子: | 0.4084 |
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英文摘要: | |
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科研产出