The Effect of Cryogenic Temperature Characteristics on 0.18 um--中国科学院微电子研究所

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论文编号:	1725110120150161
第一作者所在部门:	研究生1，硅器件中心
论文题目:	The Effect of Cryogenic Temperature Characteristics on 0.18 um
论文题目英文:
作者:	解冰清
论文出处:
刊物名称:	电子元器件辐射效应国际会议(ICREED)
年:	2015
卷:
期:	1
页:	28-28
联系作者:	罗家俊
收录类别:
影响因子:	0
摘要:
英文摘要:
外单位作者单位:
备注: