论文编号: 1725110120150146
第一作者所在部门: 研究生1
论文题目: Total dose radiation and annealing responses of the back transistor of Silicon-On-Insulator pMOSFETs
论文题目英文:
作者: 赵星
论文出处:
刊物名称: Chinese Physics C
: 2015
:
: 9
: 096101-1-096101-7
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收录类别:
影响因子: 0.2311
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