论文编号: 1725110120150121
第一作者所在部门: 高频高压中心
论文题目: In-situ phosphorous-doped SiGe layer on Si substrate by reactive thermal chemical vapor deposition at low temperature
论文题目英文:
作者: 陶科
论文出处:
刊物名称: Materials Science in Semiconductor Processing
: 2015
: 38
: 1
: 137-141
联系作者: 贾锐
收录类别:
影响因子: 1.955
摘要:
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