论文编号: | 1725110120160338 |
第一作者所在部门: | |
论文题目: | Ultra-thin 20 nm-PECVD-Si3N4 surface passivation in T-shaped gate InAlAs/InGaAs InP-based HEMTs and its impact on DC and RF performance |
论文题目英文: | |
作者: | 丁芃 |
论文出处: | |
刊物名称: | SOLID-STATE ELECTRONICS |
年: | 2016 |
卷: | |
期: | 123 |
页: | 1 |
联系作者: | 金智 |
收录类别: | |
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科研产出