论文编号: | 1725110120160284 |
第一作者所在部门: | |
论文题目: | Complexity of the Total Dose Radiation Response of Fully Depleted Silicon On Insulator NMOSFETs |
论文题目英文: | |
作者: | 郑中山 |
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刊物名称: | International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology |
年: | 2016 |
卷: | |
期: | 2 |
页: | 12 |
联系作者: | 郑中山 |
收录类别: | |
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科研产出