Random telegraph noise: the key to single defect studies in nano-devices--中国科学院微电子研究所

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论文编号:	1725110120160276
第一作者所在部门:
论文题目:	Random telegraph noise: the key to single defect studies in nano-devices
论文题目英文:
作者:	Eddy Simoen
论文出处:
刊物名称:	Thin Solid Films
年:	2016
卷:
期:	613
页:	2
联系作者:	Eddy Simoen
收录类别:
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英文摘要:
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