| 论文编号: | 1725110120160275 |
| 第一作者所在部门: | |
| 论文题目: | Impact of the Effective Work Function Gate Metal on the Low-Frequency Noise of Gate-All-Around Silicon-on-Insulator NWFETs |
| 论文题目英文: | |
| 作者: | 方雯 |
| 论文出处: | |
| 刊物名称: | IEEE Eletrcon Device Letters |
| 年: | 2016 |
| 卷: | 37 |
| 期: | 4 |
| 页: | 363 |
| 联系作者: | Eddy Simoen |
| 收录类别: | |
| 影响因子: | |
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科研产出