论文编号: 1725110120160253
第一作者所在部门:
论文题目: Attainment of dual-band edge work function by using a single metal gate and single high-k dielectric via ion implantation for HP CMOS device
论文题目英文:
作者: 徐秋霞
论文出处:
刊物名称: Solid-State Electronics
: 2016
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: 115
: 26
联系作者: 徐秋霞
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