Microcontroller susceptibility variations to EFT burst during accelerated aging--中国科学院微电子研究所

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论文编号:	1725110120160237
第一作者所在部门:
论文题目:	Microcontroller susceptibility variations to EFT burst during accelerated aging
论文题目英文:
作者:
论文出处:
刊物名称:	Microelectronics Reliability
年:	2016
卷:	64
期:	64
页:	210
联系作者:	李彬鸿
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