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论文编号: 1725110120160231
第一作者所在部门:
论文题目: Electromagnetic susceptibility characterization of double SOI device
论文题目英文:
作者: 李彬鸿
论文出处:
刊物名称: Microelectronics Reliability
年: 2016
卷: 64
期: 64
页: 168
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