论文编号: | 1725110120160212 |
第一作者所在部门: | |
论文题目: | Impact of pattern dependency of SiGe layers grown selectively in source/drain on the performance of 14?nm node FinFETs |
论文题目英文: | |
作者: | 秦长亮 |
论文出处: | |
刊物名称: | solid-state electronics |
年: | 2016 |
卷: | |
期: | 124 |
页: | 10 |
联系作者: | 王桂磊 |
收录类别: | |
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科研产出