论文编号: 1725110120160202
第一作者所在部门:
论文题目: Study of SiGe selective epitaxial process integration with high-k and metal gate for 16/14 nm nodes FinFET technology
论文题目英文:
作者: 王桂磊
论文出处:
刊物名称: Microelectronics Engineering
: 2016
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: 163
: 49
联系作者: 罗军,王桂磊
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