| 论文编号: | 1725110120160083 |
| 第一作者所在部门: | |
| 论文题目: | Computation of sensitivities of IC interconnect parasitic capacitances to the process variation with dual discrete geometric methods |
| 论文题目英文: | |
| 作者: | 高展 |
| 论文出处: | |
| 刊物名称: | Journal of Semiconductors |
| 年: | 2016 |
| 卷: | 37 |
| 期: | 8 |
| 页: | 085003-1 |
| 联系作者: | 闫帅 |
| 收录类别: | |
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科研产出