| 论文编号: | 1725110120160076 |
| 第一作者所在部门: | |
| 论文题目: | Effect of interface and bulk traps on the C–V characterization of a LPCVD-SiNx/AlGaN/GaN metal-insulator-semiconductor structure |
| 论文题目英文: | |
| 作者: | |
| 论文出处: | |
| 刊物名称: | Semiconductor Science and Technology |
| 年: | 2016 |
| 卷: | 31 |
| 期: | 6 |
| 页: | 065014-1 |
| 联系作者: | 黄森 |
| 收录类别: | |
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