当前位置 首页 人才队伍
  • 姓名: 孙锴
  • 性别: 女
  • 职称: 副研究员
  • 职务: 
  • 学历: 博士
  • 电话: 18629404731
  • 传真: 
  • 电子邮件: sunkai1@ime.ac.cn
  • 所属部门: 高频高压中心
  • 通讯地址: 北京市朝阳区北土城西路3号

    简  历:

  • 教育背景

    20089-20135月,  西安交通大学电信学院,控制科学与工程,博士学位 

    20039-20064月,  西安交通大学学院经金学院,应用经济学,硕士学位 

    19969-20005月,  武汉大学物理系,应用物理学,本科,学士学位 

    工作简历 

    20189-至今 中国科学研微电子研究所, 副研究员 

    20078-20189月,西安建筑科技大学,机电工程学院,助教,讲师,副教授 

    20122-20132月,美国俄亥俄州立大学,电子信息工程学院,访问学者 

    200612-20076月,赛贝斯软件中国有限公司,软件测试工程师 

    20065-200611月,深圳华为技术有限公司,   项目管理工程师 

    20028-20037月, 北京蓝色之星科技有限公司,软件工程师 

    20023-20026月, 清华同方光盘股份有限公司,软件工程师 

    20007-20021月, 西安原相科技股份有限公司,软件工程师 

    社会任职:

  • 四川电子学会可靠性分会专委委员 

    研究方向:

  • 复杂产品可靠性分析,智能制造,人工智能与大数据

    承担科研项目情况:

  • 主持国家研究项目: 

    [1] 国家自然科学基金青年项目:基于系统图谱的流程工业生产系统运行健康状态分析方法研究,批准号:51705393,起止年月:2018/01-2020/12,经费:21万元 

    [2] 基础研究项目,子课题负责人,已立项 

    参与国家科研项目 

    2017年度国家重点研发计划重大科学仪器开发重点专项”的子课题“关键电路集成芯片验证”(项目编号:2017YF0106602 

    代表论著:

  • 发表论文: 

    [1] Sun Kai, Wu Jin, Semiconductor chip’s quality analysis based on its high dimensional test data[J],Annals of Operations Research, 2019, S.I. : RELIABILITY MODELING WITH APPLICATIONS BASED ON BIG DATA 

    [2] Gao XuGao Jianmin, Sun Kai etc. Online Fault Diagnosis of Modern Process industry System based on Color-spectrum, Journal of  Shanghai  Jiaotong  University (Science) 2016,215:621-628 

    [3] Sun Kai, Gao Jianmin, Gao Zhiyong, Jiang Hongquan, Gao Xu, Plant-wide quantitative assessment of a process industry systems operating state based on color-spectrum[J], Mechanical Systems and Signal Processing. 201560-61:644-655  

    [4]孙锴,高建民,高智勇,基于数据驱动的系统彩色图谱分析现代工业系统健康状态[J]. 机械工程学报,201248卷第18期:186-191(机械行业权威期刊,EI:20124415622518 

    出版专著 

    [1] 基于系统图谱的复杂机电系统状态分析方法,西北工业大学出版社,20168月,ISBN978-7-5612-5079-2 

    出版教材 

    [1] 电气工程中的电磁场,西北工业大学出版社,20168月,ISBN978-7-5612-5078-5

    专利申请:

  • 获得国家发明专利 

    [1]高建民,孙锴,高智勇,陈富民,姜洪权,基于二维彩色数字图谱的复杂机电系统状态评估方法[P].中国.专利号: ZL201110146488.5 

    [2] 孙锴,基于故障数据灰度图谱的半导体芯片批量测试方法[P],专利号:201611199475.3 

    获得软件著作权 

    [1] 孙锴,品安半导体测试数据分析软件V2.0, 登记号: 2017SR373272 

    申请国家发明专利 

    [1]  孙锴,非线性海量高维序列数据分类特性可视化及定量分析方法[P],申请号:20171047831.0

    获奖及荣誉: