专利名称: | 锗预无定形注入结合低能注入形成超浅源漏延伸区的方法 |
专利类别: | |
申请号: | 00135751.4 |
申请日期: | 2000-12-19 |
专利号: | CN1360343 |
第一发明人: | 徐秋霞 殷华湘 钱鹤 |
其它发明人: | |
国外申请日期: | |
国外申请方式: | |
专利授权日期: | |
缴费情况: | |
实施情况: | |
专利证书号: | |
专利摘要: | 一种锗预无定形注入结合低能注入形成超浅源漏延伸区的方法,在硅表面上用元素锗的预无定形注入,进行快速热退火,形成超浅的PN结与NP结,消除注入损伤带来的结漏电,步骤为:(1)在原始硅片上形成低掺杂的阱;(2)一次光刻,局部场氧化隔离,形成有源区;(3)锗重离子预无定形注入;(4)通过两次光刻分别进行二氟化硼和砷的低能注入各形成PN结与NP结;(5)低温侧墙氧化淀积,光刻和RIE刻蚀深源漏区;(6)深源漏区注入;(7)快速热退火。 |
其它备注: | |
科研产出