专利名称: 在碳化硅基衬底上获得高速电学材料结构的方法
专利类别:
申请号: 02119900.0
申请日期: 2002-05-17
专利号: CN1459822
第一发明人: 张海英
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 本发明一种在碳化硅基衬底上获得高速电学材料结构的方法,包括如下步骤:1)取表面生长有碳化硅单晶层的硅材料或碳化硅单晶材料,进行清洗处理,作为高速器件结构的外延的衬底;2)在碳化硅单晶外延层上生长晶格渐变过渡层;3)进行电学结构生长;4)利用获得的材料制作器件或电路;5)器件或电路正面工艺结束后,将背面的硅去掉,以保证器件的良好散热性能。
其它备注: