| 专利名称: | 遵循IEEE1149.1协议的通用测试IP方法 |
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| 申请号: | 200610012047.5 |
| 申请日期: | 2006-05-31 |
| 专利号: | CN101083507 |
| 第一发明人: | 吴 斌 周玉梅 黑 勇 |
| 其它发明人: | |
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| 专利摘要: | 本发明涉及超大规模集成电路技术领域，是一种遵循IEEE1149.1协 议的通用测试IP的设计方法。根据IEEE1149.1协议对JTAG电路的规范 要求，设计一个完整的测试IP体系结构，测试IP包括一套参数化的标 准测试控制逻辑库，可扩展测试逻辑功能库，可配置IO逻辑功能库，并 设计自动测试矢量库，所设计的参数化功能库和所提出的参数化配置方 法，实现对符合IEEE1149.1协议的不同ASIC电路进行相关基本和扩展 功能测试。本发明方法对遵循IEEE1149.1协议的ASIC电路进行测试具 有测试成本低廉，使用维护方便，测试对象广泛，辅助分析透明直观等 特点，具有良好的推广和使用价值。 |
| 其它备注: | |
科研产出