专利名称: 一种SOI基顶栅单电子晶体管及其制备方法
专利类别:
申请号: 200610109563.X
申请日期: 2006-08-10
专利号: CN101123273
第一发明人: 龙世兵 王 琴 陈杰智 刘 明 陈宝钦
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 本发明公开了一种绝缘体上硅SOI基顶栅单电子晶体管,该单电子晶
体管包括:库仑岛、位于库仑岛两侧的源和漏、连接库仑岛与源的隧道结、
连接库仑岛与漏的隧道结、位于库仑岛上面的栅介质和多晶硅栅、源上沉
积的源电极、漏上沉积的漏电极、以及顶栅上沉积的顶栅栅电极。本发明
同时公开了一种SOI基顶栅单电子晶体管的制作方法。利用本发明,大大
提高了单电子晶体管的可靠性及与传统CMOS工艺的兼容性,简化了制作
工艺,降低了制作成本,提高了工艺稳定性和制作效率,非常有利于本发
明的广泛推广和应用。另外,本发明非常适合于制作单电子晶体管,能够
获得较高的操作温度,同时对高速操作也非常有利。
其它备注: