专利名称: | 一种利用光敏胶层制作空气桥的方法 |
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申请号: | 200710064859.9 |
申请日期: | 2007-03-28 |
专利号: | CN101276778 |
第一发明人: | 于进勇 金 智 程 伟 刘新宇 夏 洋 |
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专利摘要: | 本发明涉及半导体器件及集成电路制造工艺技术领域,公开了一种利 用光敏胶层制作空气桥的方法,包括:A、在基片上涂敷牺牲胶层覆盖基 片上的金属,光刻、曝光、显影涂敷的牺牲胶层,形成空气桥支撑;B、 对形成空气桥支撑的基片进行烘烤,使牺牲胶的边角圆滑并固化;C、在 基片上涂敷二次光刻胶,光刻、曝光、显影涂敷的二次光刻胶,形成桥面; D、在基片上蒸发、溅射或电镀一层金属材料;E、剥离基片上的光刻胶, 形成空气桥。利用本发明,简化了制作工艺,提高了制作的可控性和精度, 并避免使用剧毒试剂,减少了制作过程中对器件的损伤。 |
其它备注: | |
科研产出