专利名称: 一种制作T型HBT发射极/HEMT栅的方法
专利类别:
申请号: 200710117615.2
申请日期: 2007-06-20
专利号: CN101330010
第一发明人: 于进勇 金 智 程 伟 刘新宇 夏 洋
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 本发明涉及半导体器件及集成电路制造工艺技术领域,公开了一种制
作T型HBT发射极/HEMT栅的方法,该方法包括:在基片上涂一次光刻
胶,并光刻、曝光、显影、定义T型HBT发射极/HEMT栅的下半部分;
烘烤所述基片,使牺牲胶的边角圆滑并固化;涂二次光刻胶,并光刻、曝
光、显影,制作T型HBT发射极/HEMT栅的上部分;蒸发、溅射或电镀
一层金属,金属层的厚度大于一次光刻胶厚度;剥离去除不需要的金属以
及所有光刻胶,形成T型HBT发射极/HEMT栅。利用本发明,工艺简单,
成本低,可控性好,制作金属加厚的T型HBT发射极/HEMT栅更有优势。
其它备注: