专利名称: 单片集成砷化镓基MHEMT和PIN二极管材料结构
专利类别:
申请号: 200710178311.7
申请日期: 2007-11-28
专利号: CN101447484
第一发明人: 徐静波 张海英 叶甜春
其它发明人:
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专利证书号:
专利摘要: 本发明公开了一种单片集成GaAs基MHEMT和PIN二极管材料
结构,该结构由GaAs基MHEMT和PIN二极管两部分组成,所述GaAs
基MHEMT和所述PIN二极管被N型高掺杂腐蚀截止层InP隔开;所
述GaAs基MHEMT由在GaAs衬底上依次分子束外延生长的缓冲层
GaAs、应变缓冲层InxAl1-xAs、沟道下势垒层In0.52Al0.48As、沟道层
In0.53Ga0.47As、空间隔离层In0.52Al0.48As、平面掺杂层、势垒层
In0.52Al0.48As和N型高掺杂盖帽层In0.53Ga0.47As构成;所述N型高掺杂
腐蚀截止层InP在所述N型高掺杂盖帽层In0.53Ga0.47As上分子束外延
生长而成;所述PIN二极管由在N型高掺杂腐蚀截止层InP上依次分
子束外延生长的N型掺杂层In0.53Ga0.47As、不掺杂层In0.53Ga0.47As和P
型掺杂层In0.53Ga0.47As构成。本发明将GaAs基MHEMT和PIN二极
管集成在同一块衬底上,实现单片集成GaAs基MHEMT和PIN二极
管。
其它备注: