专利名称: 管状栅电极垂直沟道有机场效应晶体管及其制备方法
专利类别:
申请号: 200810227455.1
申请日期: 2008-11-25
专利号: CN101447552
第一发明人: 商立伟 刘 明 涂德钰 刘 舸 刘兴华
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专利证书号:
专利摘要: 本发明公开了管状栅电极垂直沟道有机场效应晶体管,属于有机微电子学领域。
该器件包括绝缘衬底上的源电极、介质层、半导体层、管状栅电极以及金属漏电极。
其中器件的栅电极为管状,包裹在中心区的有机半导体层外围。栅电极和有机半导体
层之间通过栅介质互相隔离开。源电极和漏电极均为平面电极,分别位于器件的底部
和顶部,通过介质层和栅电极分离。本发明提供的器件结构通过把沟道方向从水平转
变为垂直,只需要控制薄膜的生长厚度就能够有效控制器件的沟道长度,避免了昂贵
的电子束光刻,是一种低成本的短沟道有机场效应晶体管。同时本发明还提供了这种
器件的制备方法。
其它备注: