专利名称: 一种制备硅纳米晶薄膜的方法
专利类别:
申请号: 200710179368.9
申请日期: 2007-12-12
专利号: CN101457346
第一发明人: 陈 晨 贾 锐 李维龙 刘 明 陈宝钦 龙世兵 谢常青 涂德钰 刘 琦
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 本发明公开了一种制备硅纳米晶薄膜的方法,包括:在硅衬底上
热生长二氧化硅层;将一定配比的硅粉末和二氧化硅粉末的混合物作
为靶材通过磁控溅射法沉积至所述二氧化硅层上,形成富硅的混合物
薄膜层;在氮气气氛下将形成的混合物薄膜层高温退火形成硅纳米晶
薄层。采用本发明提供的方法制备的纳米晶直径在4至6nm,主要应
用于硅单电子器件、单电子存储器、硅纳米晶浮栅存储器、纳米晶光
电探测器等器件的制备中,适合大规模生产的要求。
其它备注: