专利名称: 采用电子束蒸发方式制备HfO2纳米晶的方法
专利类别:
申请号: 200710179371.0
申请日期: 2007-12-12
专利号: CN101459085
第一发明人: 李维龙 贾 锐 陈 晨 刘 明 陈宝钦 龙世兵 谢常青 王 琴 涂德钰
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
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实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 本发明公开了一种采用电子束蒸发方式制备HfO2纳米晶的方法,
该方法包括:在衬底上生长二氧化硅层;采用电子束蒸发方式将HfO2
粉末和二氧化硅粉末的混合物共同蒸发至该二氧化硅层上;高温快速
热退火。采用该方法制备的HfO2量子点颗粒的直径大小约为4至8nm,
可用于浮栅存储器的制作等。这种方法具有工艺步骤少、简单、稳定
可靠、易于大规模制造、能与传统的微电子工艺兼容的优点。
其它备注: