专利名称: 采用有源层图形化制备有机场效应晶体管的方法
专利类别:
申请号: 200810240085.5
申请日期: 2008-12-17
专利号: CN101752508A
第一发明人: 刘舸 刘明 刘兴华 商立伟 王宏 柳江
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 本发明公开了一种采用有源层图形化制备有机场效应晶体管的方法,包括:在绝缘衬底上涂敷光刻胶;光刻得到栅电极图形;蒸发或沉积金属电极材料;用丙酮剥离不需要的金薄膜得到器件的栅电极图形;在栅电极上蒸发或沉积一层绝缘介质层材料;在绝缘介质层材料上匀胶后光刻得到器件源漏电极的图形;再次蒸发或沉积金属电极材料,剥离后得到器件的源漏电极图形;沉积生长有机半导体薄膜,完成有源层图形化的有机场效应晶体管的制备。利用本发明,对有源层的图形化工艺简单,没有增加光刻步骤,主要依靠栅介质的台阶特性实现器件隔离和有源层的图形化。另外,本方法也与成熟的光刻工艺兼容,降低了成本,有利于工业生产。
其它备注: