专利名称: 一种复合存储介质浮栅存储器结构及其制作方法
专利类别:
申请号: 200910078558.0
申请日期: 2009-02-25
专利号: CN101814506A
第一发明人: 刘明 王永 王琴 杨潇楠
其它发明人:
国外申请日期:
国外申请方式:
专利授权日期:
缴费情况:
实施情况:
专利证书号:
专利摘要: 本发明公开了一种复合存储介质浮栅存储器结构及其制作方法。复合存储介质浮栅存储器结构由下至上依次包括硅衬底、隧穿介质层、氮化硅、硅纳米晶、高温氧化物、多晶硅层和在硅衬底上刻蚀形成的栅和源/漏区,以及在二氧化硅层上刻蚀形成的侧墙。利用本发明,解决了传统Flash技术节点可缩小化问题存在的不足,采用两种存储介质储存电荷,增大了存储窗口,使浮栅存储电荷的可靠性增加,提高了浮栅器件的保持特性。
其它备注: